BeNano 180 納米粒度分析儀

簡要描述：BeNano 180 納米粒度分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的采用背向散射技術(shù)用于檢測納米顆粒粒度及其分布的光學檢測系統(tǒng)。

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2025-02-28
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納米粒度及Zeta電位分析儀

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BeNano 180 納米粒度分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的采用背向散射技術(shù)用于檢測納米顆粒粒度及其分布的光學檢測系統(tǒng)。它基于動態(tài)光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過激光照射到樣品上，光電檢測器在背向 173°角檢測樣品顆粒布朗運動造成的散射光強隨時間的波動，再通過相關(guān)器進行自相關(guān)運算得出樣品的自相曲線，結(jié)合數(shù)學方法就可以得到顆粒的擴散系數(shù)，進一步利用斯托克斯 - 愛因斯坦方程就得到樣品的粒度結(jié)果。

BeNano 180 納米粒度分析儀

基本性能指標

粒徑檢測

粒徑范圍	0.3 nm – 10 μm
最小樣品量	40 μL
檢測角度	173°
分析算法	Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

分子量測試

分子量范圍

342 Da – 2 x 10⁷ Da

微流變測試

測試能力	均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span>

趨勢測試

模式

時間和溫度

系統(tǒng)參數(shù)

溫控范圍	-15°C - 120°C
冷凝控制	干燥空氣或者氮氣
標準激光光源	50 mW 高性能固體激光器， 671 nm
相關(guān)器	快、中、慢多模式，最快25 ns采樣，最多 4000通道，10¹¹動態(tài)線性范圍
檢測器	APD （高性能雪崩光電二極管）
光強控制	0.0001% - 100%，手動或者自動

檢測參數(shù)

●流體力學直徑 D_H

●分布系數(shù) PD.I

●擴散系數(shù) D

●顆粒間相互作用力因子 k_D

●顆粒體系的光強、體積、面積和數(shù)量分布

●分子量

●溶液粘度和折光指數(shù)

●溶液流變學信息G*，G‘，G“，η*，J

檢測技術(shù)

●動態(tài)光散射

●靜態(tài)光散射

選配件

●動靜態(tài)流動模式

BeNano動靜態(tài)流動模式（Flow Mode）是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端（FFF、GPC/SEC）相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進行分離，依次流出。通過檢測每個流出組分的動態(tài)光散射信號和靜態(tài)光散射號，并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號，得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布、分子量分布信息。